纳米扫描探针显微镜

纳米扫描探针显微镜工作模式：

标准工作模式：轻敲模式(Vibration mode)，接触模式 (Contact mode)，相位成像模式 (Phase imaging)，横向力模式 (LFM)，力曲线测试（Force Curve），纳米操控 （Nanomanipulation），纳米刻蚀 （Nanolithography），力矩阵模式 （Force Mapping），摩擦力测试 （Friction Mode）

可选工作模式：导电原子力显微镜 （C-AFM），磁力显微镜（MFM），静电力显微镜（EFM）,扫描电势显微镜（SKPM），压电力显微镜模式(PFM Mode)，液相模式 (Liquid Mode)

AFMWorkshop是专门从事设计和制造原子力显微镜的专业化公司 。公司创始人是有30年原子力显微镜经验的 Paul West博士，原子力显微镜教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

纳米扫描探针显微镜技术参数

扫描范围：100 μm，50 μm，15μm

Z方向范围：17 μm，7 μm

XY方向驱动分辨率：0.01 nm

Z方向驱动分辨率：0.03 nm

Z方向测量噪音水平：0.15 nm

样品尺寸：直径25mm